Kapazitive Sensoren für präzise Messungen

Kunden weltweit vertrauen auf Microsense (früher ADE Technologies), wenn es um Lösungen für anspruchsvolle Wegmessungen geht. Die Messsysteme von Microsense sind patentiert und arbeiten nach dem kapazitiven Messprinzip. Die Messsysteme erlauben sehr genaue Messungen mit hoher Bandbreite und werden unter anderem bei Anwendungen wie Festplattenlaufwerken, luftgelagerte Spindeln, Präzisions-Kreuztische, optische Scheiben, Kfz-Teile und Werkzeugmaschinen eingesetzt. Mit einer Auflösung von weniger als 0,05 nm und einer nahezu unbegrenzten Lebensdauer, sind die Messsysteme von Microsense die Leistungsstärksten auf dem Markt.


Auch als Feedbacksystem einsetzbar

Die kapazitiven Messsysteme von Microsense sind zur präzisen Positionserkennung einsetzbar – oder als Feedbacksystem in einem Regelkreis. Führende Maschinenhersteller weltweit setzen auf Microsense in Anwendungen wie Wafer-Lithografie, Autofokussierung, Nanopositionierung, Metrologie und Herstellung von Flat-Panel-Displays. Kapazitive Sensoren ermöglichen Messungen im Sub-Nanometer Bereich und liegen preislich günstiger als Laser-Interferometer. Die hochvakuum tauglichen Sensoren von Microsense sind ideal für Anwendungen wie Scanning Electron Microscope (SEM) und Focussed-Ion-Beam (FIB) Systeme.



Berührungslose Messung
Leitendes, geerdetes Zielobjekt (Sondersensoren für nicht leitende Materialen
verfügbar)
Messabstand von ±10 μm bis ±1000 μm (max. 25 mm möglich)
Messauflösung von < 1 nm bis 50 nm
Analog Ist-Wert-Signal von ±10 V (andere Spannungsbereiche optional)
Linearität 0,02 % über gesamten Messbereich (Full-Scale Range)
Stabilität von bis zu 1 nm pro Tag möglich
Messbandbreite von 10 kHz bis 100 kHz
Messsyteme auch für UHV- bzw. nicht-magnetische Umgebungen erhältlich


Motion control mit höchster Geschwindigkeit und höchste Präzision
Messung im pm Bereich (Sub-Nanometer)
Präzisionstische
Messungen im Vakuum
Vibrationsanalyse
kontaktlose Dickenmessung
Focal Plane Control Applications
Analyse von Geschwindigkeit, Beschleunigung, Flattern und Verspannung
kontaktlose und nicht zerstörende Messungen


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